【高分辨納米電子結構線站】 　　　

　　高分辨納米電子結構研究線站（High-Resolution Nanoscale Electronic Structure Spectroscopy，簡稱High-NESS），采用波蕩器插入件提供偏振可調的高亮度軟X射線，覆蓋X射線能量范圍100～2000eV，在保證角分辨光電子能譜所需超高能量分辨率的同時，涵蓋了C、N、O等輕元素K邊，過渡族金屬L邊，以及稀土元素M邊等豐富的譜學信息，是強關聯(lián)體系研究的最佳實驗光源，并且能夠為各種新型量子材料的表面和界面研究提供豐富的物理信息。

　　擬設計為兩種工作模式：納米角分辨光電子能譜（Nano-ARPES）和微米角分辨光電子能譜（μARPES），保證了實驗用戶不同實驗需求對光源的不同優(yōu)化要求，并且兩種實驗模式的光斑共焦點，可在不破壞真空的情況下自由切換。

負責人：王嘉鷗（010-88235992 wangjo@ihep.ac.cn ）