特聘青年研究員
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任哲


  • 類別: 特聘青年研究員
  • 研究方向:

    主要研究方向為發(fā)展及應用基于同步輻射加速器進行的X射線衍射與成像技術, 如:

    1.?X射線納米探針技術:聚焦X光到微米或者納米量級,研究薄膜樣品在三維倒易空間中的衍射強度與實空間中的不均勻性;

    2.?布拉格相干性衍射成像技術:近30年中興起的新型衍射成像的技術。通過相干光照射樣品,測量三維倒易空間中布拉格峰附近的衍射強度,然后進行相位還原算法成像,表征納米結構中的應力,應變,缺陷和疇結構;

    3.?X射線光子關聯譜:通過相干性X射線衍射研究樣品系統中的動力學過程,本人主要專注于表征蛋白質大分子的凝膠化過程;

    4.?微米級勞厄衍射:通過衍射圖樣確定樣品中晶體的取向,結合聚焦X光,該技術被用于研究納米結構的彎曲與扭轉形變;


  • 學歷: 博士研究生
  • Email: renzhe@ihep.ac.cn
  • 地址: 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙
  • 郵編: 100049
簡歷介紹

2009年畢業(yè)于山東大學,獲物理學學士學位。

2012年畢業(yè)于德國烏爾姆大學(Ulm University),獲先進材料碩士學位。

2016年畢業(yè)于法國艾克斯-馬賽大學(Aix Marseille University)(IM2NP研究所),獲物理學博士學位

2017-2019 于瑞典,隆德大學,同步輻射研究所,從事博士后

2019-2023 于德國,德國電子同步加速器,P10相干性衍射線站,從事博士后

2023年起加入中國科學院高能物理研究所多學科中心,副研究員/特聘青年研究員


承擔科研項目情況

本人先后參加過以下三個主要項目, 共發(fā)表論文20余篇,其中一作/通訊4篇,谷歌學術總引用206次。

項目1:在同步輻射加速器進行的原位納米力學測試

參與搭建能夠應用于同步輻射光源的原子力探針顯微鏡,發(fā)展新型的探針與納米聚焦光斑的共聚焦方法,結合該顯微鏡與微米級勞厄衍射進行原位納米力學實驗,首次表征了金納米線在三點彎曲過程中的彈性和塑性形變。

項目2:表征砷化銦納米線的結構與電學性質的關系

通過掃描隧穿顯微鏡得到納米線的電學性質, 結合布拉格相干性衍射成像得到的結構信息,創(chuàng)新性的探究了砷化銦納米線電學性質與其中的缺陷的關系。

項目3:P10相干性衍射線站用戶服務

在P10相干性衍射線站負責布拉格相干性衍射成像實驗,進行用戶服務,編寫數據處理相關軟件。


代表論著(中文)
代表論著(英文)

1. Z. Ren, T. W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, and O. Thomas*, (2020), First stages of plasticity in three-point bent Au nanowires detected by in situ Laue microdiffraction, Appl. Phys. Lett. Volume 116, p 243101

2. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Three-point bending behavior of a Au nanowire studied by in-situ Laue micro-diffraction, Journal of Applied Physics, Volume 124, p 185104

3. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Plasticity in inhomogeneously strained Au nanowires studied by Laue microdiffraction, MRS Advances, Volume 2, pp 2331-2339

4. Z. Ren, F. Mastropietro, A. Davydok, S. Langlais, M. -I. Richard, J.J. Furter, O. Thomas, M. Dupraz, M. Verdier, G. Beutier, P. Boesecke, T.W. Cornelius*, (2014), Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies. Journal of Synchrotron Radiation, Volume 21, pp. 1128-1133

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