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任哲


  • 類別: 特聘青年研究員
  • 研究方向:

      主要研究方向為發(fā)展及應(yīng)用基于同步輻射加速器進(jìn)行的X射線衍射與成像技術(shù), 如: 

      1. X射線納米探針技術(shù):聚焦X光到微米或者納米量級,研究薄膜樣品在三維倒易空間中的衍射強(qiáng)度與實空間中的不均勻性;  

      2. 布拉格相干性衍射成像技術(shù):近30年中興起的新型衍射成像的技術(shù)。通過相干光照射樣品,測量三維倒易空間中布拉格峰附近的衍射強(qiáng)度,然后進(jìn)行相位還原算法成像,表征納米結(jié)構(gòu)中的應(yīng)力,應(yīng)變,缺陷和疇結(jié)構(gòu); 

      3. X射線光子關(guān)聯(lián)譜:通過相干性X射線衍射研究樣品系統(tǒng)中的動力學(xué)過程,本人主要專注于表征蛋白質(zhì)大分子的凝膠化過程; 

      4. 微米級勞厄衍射:通過衍射圖樣確定樣品中晶體的取向,結(jié)合聚焦X光,該技術(shù)被用于研究納米結(jié)構(gòu)的彎曲與扭轉(zhuǎn)形變; 

  • 學(xué)歷: 博士研究生
  • Email: renzhe@ihep.ac.cn
  • 地址: 北京市石景山區(qū)玉泉路19號乙
  • 郵編: 100049
簡歷介紹

  2009年畢業(yè)于山東大學(xué),獲物理學(xué)學(xué)士學(xué)位。 

  2012年畢業(yè)于德國烏爾姆大學(xué)(Ulm University),獲先進(jìn)材料碩士學(xué)位。 

  2016年畢業(yè)于法國艾克斯-馬賽大學(xué)(Aix Marseille University)(IM2NP研究所),獲物理學(xué)博士學(xué)位 

  2017-2019 于瑞典,隆德大學(xué),同步輻射研究所,從事博士后 

  2019-2023 于德國,德國電子同步加速器,P10相干性衍射線站,從事博士后 

  2023年起加入中國科學(xué)院高能物理研究所多學(xué)科中心,副研究員/特聘青年研究員 

承擔(dān)科研項目情況

  1. 通過X射線納米探針技術(shù)探究PbTiO3/SrTiO3超晶格中的拓?fù)洚牻Y(jié)構(gòu)。 

  2. 通過布拉格相干性衍射成像方法表征鐵電納米島中的應(yīng)力分布。 

  3. 通過X射線光子關(guān)聯(lián)譜研究蛋白質(zhì)大分子的凝膠化過程。  

代表論著(中文)
代表論著(英文)

  1. Z. Ren, T. W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, and O. Thomas*, (2020), First stages of plasticity in three-point bent Au nanowires detected by in situ Laue microdiffraction, Appl. Phys. Lett. Volume 116, p 243101 

  2. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Three-point bending behavior of a Au nanowire studied by in-situ Laue micro-diffraction, Journal of Applied Physics, Volume 124, p 185104 

  3. Z. Ren, T.W. Cornelius, C. Leclere, A. Davydok, J.-S. Micha, O. Robach, G. Richter, O. Thomas*, (2018), Plasticity in inhomogeneously strained Au nanowires studied by Laue microdiffraction, MRS Advances, Volume 2, pp 2331-2339 

  4. Z. Ren, F. Mastropietro, A. Davydok, S. Langlais, M. -I. Richard, J.J. Furter, O. Thomas, M. Dupraz, M. Verdier, G. Beutier, P. Boesecke, T.W. Cornelius*, (2014), Scanning force microscope for in situ nanofocused X-ray diffraction studies. Journal of Synchrotron Radiation, Volume 21, pp. 1128-1133 

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